Numéro
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 3, Numéro 4, décembre 1968
Page(s) 400 - 404
DOI https://doi.org/10.1051/rphysap:0196800304040000
Rev. Phys. Appl. (Paris) 3, 400-404 (1968)
DOI: 10.1051/rphysap:0196800304040000

Influence de la présence d'un ménisque dans la détermination des propriétés diélectriques par la méthode de Hippel en ligne coaxiale

J.-M. Neu, G. Roussy et J.-L. Rivail

Laboratoire de Chimie Théorique, Faculté des Sciences, Nancy


Abstract
The meniscus shaped surface of a coaxial sample is treated as a perturbation of a plane surface. It is shown that when the losses are high (tan δ > 0.4), the method of von Hippel, used with the assumption of an average plane of incidence, is very uncertain. In the case of medium or low losses, the sample lengths which lead to the best accuracy, are determined. They are not the same as those which are deduced from the influence of the sample length on the accuracy of the method. In the usual conditions (ε'/ε0 < 10 ; tan δ < 0.1), the influence of the meniscus can be neglected for frequencies lower than about 2 000 MHz, and at 4 000 MHz the uncertainty on ε'' is less than 2 %.


Résumé
On tient compte de la présence d'un ménisque à la face d'entrée d'un échantillon coaxial en le traitant comme perturbation d'une face plane. On montre ainsi que dans le cas des pertes élevées (tg 8 > 0,4) la méthode de von Hippel appliquée à un plan d'entrée moyen est très aléatoire. Pour des pertes moyennes et faibles, les longueurs qui réalisent les meilleures conditions de mesure sont déterminées. Elles ne correspondent toutefois pas à celles qui sont déduites de l'étude de l'influence de l'épaisseur sur la précision de la méthode. Dans les conditions usuelles : ε'/ε0 < 10, tg 8 < 0,1, l'effet du ménisque peut être négligé jusqu'aux fréquences de l'ordre de 2 000 MHz et introduit une incertitude inférieure à 2 % sur ε'' à 4 000 MHz.

PACS
7722C - Permittivity (dielectric function).

Key words
Dielectric properties -- Complex permittivity -- Calculation methods -- Plane surface -- Coaxial configuration -- Errors -- Theoretical study