Méthode de détermination des propriétés optiques de couches minces et application à la réalisation de couches de germanium à indices optiques indépendants de l'épaisseur

Abstract
This paper describes a method of producing thin films of germanium whose optical constants n and k do not vary with the thickness. The constants n and k are determined with help of optical techniques in the same vacuum which is used in preparing the films. If the thin films are made by a regular piling up of layers of equal thickness and if the evaporation parameters are held constant, the results of our measurements enables us to consider the films produced as homogeneous, limited by two parallel planes, characterized by an optical thickness d which does not depend on wavelength, and by optical constants which are inde-pendant of the thickness.

Résumé
Nous décrivons une méthode de fabrication de couches minces de germanium dont les indices optiques n et k ne varient pas avec l'épaisseur. Les indices n et k sont déterminés à l'aide de mesures optiques effectuées dans le vide même qui a servi à préparer les lames. Si les couches minces sont obtenues par empilement régulier de couches d'épaisseurs égales et si les paramètres d'évaporation sont maintenus constants, les résultats de nos expériences nous permettent de considérer les couches fabriquées comme homogènes, limitées par deux faces planes et parallèles, caractérisées par des épaisseurs optiques d indépendantes de la longueur d'onde et par des indices optiques indépendants de l'épaisseur.