Numéro
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 5, Numéro 6, décembre 1970
Page(s) 900 - 900
DOI https://doi.org/10.1051/rphysap:0197000506090001
Rev. Phys. Appl. (Paris) 5, 900-900 (1970)
DOI: 10.1051/rphysap:0197000506090001

1. Étude du courant de transport par effet tunnel assisté thermiquement dans une jonction métal-semiconducteur

V.L. Rideout et C.R. Crowell

Univ. of Southern Calif.

Without abstract


PACS
7330 - Surface double layers, Schottky barriers, and work functions.
7340G - Tunneling.

Key words
Schottky barriers -- Thermionic electron emission -- Tunnel effect -- Field emission -- Platinum -- Platinum silicides -- Silicon

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