Numéro
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 9, Numéro 2, mars 1974
Page(s) 341 - 341
DOI https://doi.org/10.1051/rphysap:0197400902034100
Rev. Phys. Appl. (Paris) 9, 341-341 (1974)
DOI: 10.1051/rphysap:0197400902034100

Comptes Rendus des exposés présentés au Colloque de Microscopie Electronique à Balayage 73 LYON, 21 et 22 juin 1973

G. Fontaine et J. Philibert

Without abstract


PACS
0130C - Conference proceedings.
0778 - Electron, positron, and ion microscopes; electron diffractometers.

Key words
Conference proceeding -- Scanning electron microscopy

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