| Numéro |
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 9, Numéro 2, mars 1974
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| Page(s) | 399 - 401 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/rphysap:0197400902039900 | |
Rev. Phys. Appl. (Paris) 9, 399-401 (1974)
DOI: 10.1051/rphysap:0197400902039900
0780 - Electron and ion microscopes and techniques.
8170 - Materials testing.
2390 - Electron and ion microscopes.
Key words
creep -- crystal microstructure -- electron probe analysis -- gold -- gold alloys -- silver -- silver alloys -- electron probe microanalyzer -- single crystals -- Au -- Ag -- Au Ag alloys -- creep sub structure investigation method -- sub grains misorientation
DOI: 10.1051/rphysap:0197400902039900
Mise en évidence des sous-structures de fluage par microanalyseur à sonde électronique
F. Maurice, P. Dorizzi et J.-P. Poirier Abstract
We describe a method of investigation of the creep sub-structure by means of electronic images realized with an electron microprobe. A qualitative study of the sub-structure and a semi quantitative study of the sub-grains misorientation is made on single crystals of Au, Ag and Au-Ag alloys.
Résumé
On décrit une méthode de mise en évidence de la sous-structure de fluage au moyen d'images électroniques réalisées sur un microanalyseur à sonde électronique. L'examen de monocristaux Au, Ag, Alliage Au-Ag permet une étude qualitative de la sous-structure et même une approche semi-quantitative de la désorientation des sous-grains.
0780 - Electron and ion microscopes and techniques.
8170 - Materials testing.
2390 - Electron and ion microscopes.
Key words
creep -- crystal microstructure -- electron probe analysis -- gold -- gold alloys -- silver -- silver alloys -- electron probe microanalyzer -- single crystals -- Au -- Ag -- Au Ag alloys -- creep sub structure investigation method -- sub grains misorientation