Numéro
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 9, Numéro 2, mars 1974
Page(s) 427 - 432
DOI https://doi.org/10.1051/rphysap:0197400902042700
Rev. Phys. Appl. (Paris) 9, 427-432 (1974)
DOI: 10.1051/rphysap:0197400902042700

Observation des domaines ferroélectriques au microscope électronique à balayage

R. Le Bihan et M. Maussion

Laboratoire de Physique des Surfaces Institut de Physique de l'Université de Nantes 38, boulevard Michelet, 44037 Nantes, France


Abstract
We explain that it is possible to observe directly insulating samples in scanning electron microscope without metallization if you choice correct values of microscope parameters. We observe the contrast due to surface potential variation and we separate it from contrast due to topography. With the scanning electron microscope we observe antiparallel ferroelectric domains without variation between ferroelectric domains of T. G. S. is observed. For Barium Titanate crystals, we reveal a ferroelectric surface layer, with a domains structure different of the bulk and persist above 180°C.


Résumé
Nous montrons qu'avec des valeurs correctes de certains paramètres, il est possible d'observer directement au microscope électronique à balayage des corps isolants sans les métalliser. L'observation d'un contraste dû à la variation du potentiel de surface est possible et il peut être séparé de celui dû à la topographie. Le microscope électronique à balayage permet l'observation des domaines ferroélectriques anti-parallèles sans être une méthode destructive ; la différence de potentiel de surface entre les domaines ferroélectriques est observée. Dans le cas du titanate de baryum, nous montrons l'existence d'une couche superficielle sur les cristaux et en outre que cette couche est ferroélectrique et le reste pour des températures supérieures au point de Curie du cristal.

PACS
7780D - Ferroelectric domain structure and effects: hysteresis.
7780 - Ferroelectricity and antiferroelectricity.
2810F - Piezoelectric and ferroelectric materials.

Key words
barium titanate -- electric domains -- electron microscope examination of materials -- ferroelectric materials -- organic compounds -- ferroelectric domains -- scanning electron microscope -- insulating samples -- without metallization -- surface potential variation -- topography -- contrast analysis