Numéro |
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 12, Numéro 2, février 1977
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Page(s) | 339 - 341 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/rphysap:01977001202033900 |
DOI: 10.1051/rphysap:01977001202033900
A small portable detector head using mis-contacted CdTe for X-ray spectrometry
P. Eichinger1 et J. Kemmer21 Institut für Festkörpertechnologie, Paul-Gerhardt-Allee 42, 8000 München, Germany
2 Physik Department der Technischen Universität, München, 8046 Garching, Germany
Abstract
The technique of applying thin insulating layers (mylar) as blocking contacts for semiconductor radiation detectors is discussed. A versatile head consisting of a 2 mm thick, 10 mm diameter CdTe crystal cooled by a miniature Peltier element has been realized on this principle. Its performance is discussed. For the best material, a FWHM of 2 keV was achieved for 90 keV γ-rays and a peak to Compton ratio of 2 : 1 for 662 keV. However, most of the crystals show severe hole trapping, leading to poorer results.
Résumé
On décrit les propriétés de détecteurs nucléaires au tellurure de cadmium sur lesquels le contact redresseur est assuré par un film isolant de mylar rendu conducteur en surface par un dépôt métallique. Une tête de détection comportant un tel compteur d'épaisseur 2 mm et de diamètre 10 mm, refroidi par un élément Peltier a été réalisé. Ses performances seront discutées. Dans les conditions optimales une résolution en énergie de 2 keV a été atteinte pour des photons de 90 keV, un rapport pic photoélectrique : hauteur de la distribution Compton de 2 : 1 a été relevé pour des rayonnements γ de 662 keV. Notons que la plupart des spectromètres présentent un piégeage important de trous, ce qui dégrade les performances de détection de ces dispositifs.
2930K - X and gamma ray spectroscopy.
2940P - Semiconductor detectors.
7340Q - Electrical properties of metal insulator semiconductor structures.
7450 - X ray and gamma ray equipment.
Key words
cadmium compounds -- II VI semiconductors -- metal insulator semiconductor devices -- semiconductor counters -- X ray spectrometers -- small portable detector head -- X ray spectrometry -- blocking contacts -- peak to Compton ratio -- hole trapping -- MSI contacted CdTe