Rev. Phys. Appl. (Paris) 13, 441-447 (1978)
DOI: 10.1051/rphysap:01978001309044100

Variations comparées de différentes propriétés électriques de couches minces métalliques avec leur épaisseur

C. Tellier et A. Tosser

Université de Nancy 1, Laboratoire d'Electronique, C.O. N° 140, 54037 Nancy, France

Abstract
The size effect conductivity of thin metallic films in a transverse magnetic field is investigated following the Sondheimer model ; it is shown that in the limit of small magnetic fields a simple and more general expression of the Hall coefficient may be obtained ; it is expressed as a function of the resistivity and its temperature coefficient. This new method of investigation seems convenient, specially when the size effects cannot be simply explained in terms of the Fuchs theory.

Résumé
L'étude des phénomènes de conduction électronique dans des couches minces métalliques soumises à un faible champ magnétique transversal conduit à proposer pour le coefficient de Hall une formule approchée simple de caractère plus général que celle précédemment établie par Sondheimer. Elle met en évidence une dépendance entre la résistivité, et son coefficient de température, et l'effet Hall ; cette nouvelle approche théorique semble utile lorsque la conductivité électronique n'est pas conforme au modèle théorique simple de Fuchs.

PACS
7215G - Galvanomagnetic and other magnetotransport effects metals/alloys.
7360D - Electrical properties of metals and metallic alloys thin films/low dimensional structures.

Key words
electronic conduction in metallic thin films -- Hall effect -- metallic thin films -- size effect -- size effect conductivity -- thin metallic films -- transverse magnetic field -- Sondheimer model -- Hall coefficient -- resistivity -- temperature coefficient -- Fuchs theory