Numéro
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 14, Numéro 4, avril 1979
Page(s) 551 - 553
DOI https://doi.org/10.1051/rphysap:01979001404055100
Rev. Phys. Appl. (Paris) 14, 551-553 (1979)
DOI: 10.1051/rphysap:01979001404055100

Etude par microanalyse aux rayons X des migrations d'argent dans Ag 2 Te

J.C. Bernède et Y. Trégouet

Laboratoire de Physique du Métal, U.E.R. de Physique, 2, rue de la Houssinière, 44072 Nantes Cedex, France


Abstract
We apply high enough electric field in M-Ag2Te-M structures to obtain a definitive memorization in a low conductivity state (OFF state) or high conductivity state (ON state) and we study in these cases the spatial distribution of silver concentration by X ray microanalysis in a scanning electron microscope. The results agree the ionic movements hypothesis introduced to account for the general aspect of I-V characteristics and for their variations with the nature and the shape of the electrodes.


Résumé
Dans le cas où les structures M-Ag2Te-M sont soumises à des champs suffisamment importants pour atteindre une mémorisation définitive des états de haute ou de faible conductivité, on étudie le tracé du profil de concentration en Argent par microanalyse aux rayons X sur un microscope à balayage. Les résultats confirment l'hypothèse d'une migration ionique introduite pour rendre compte de l'allure des caractéristiques I-V des couches minces d'Ag2Te, qui varie avec la nature et la forme des électrodes.

PACS
6630H - Self diffusion and ionic conduction in solid nonmetals.

Key words
ionic conduction in solids -- scanning electron microscope examination of materials -- self diffusion in solids -- silver compounds -- X ray diffraction examination of microstructure -- X ray microanalysis -- Ag sub 2 Te -- Ag diffusion