Numéro
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 15, Numéro 2, février 1980
Page(s) 307 - 310
DOI https://doi.org/10.1051/rphysap:01980001502030700
Rev. Phys. Appl. (Paris) 15, 307-310 (1980)
DOI: 10.1051/rphysap:01980001502030700

Irradiation de l'antimoine dans un microscope électronique à haute tension et observation de boucles de défauts ponctuels

B. Legros de Mauduit1, G. Alcouffe1 et F. Reynaud2

1  Laboratoire de Physique Structurale, ERA 301, Université P.-Sabatier, 31077 Toulouse, France
2  Laboratoire d'Optique Electronique, Laboratoire propre du C.N.R.S. associé à l'Université P.-Sabatier, B.P. 4347, 31055 Toulouse, France


Abstract
We present the first results of the effects of electron irradiation in (111) thin foils of antimony single crystals (A7 structure) in a high voltage microscope. The voltage which separates the subthreshold events from the bulk radiation damage regime is estimated to be about 725 ± 20 kV. This threshold voltage corresponds to a maximum transferred energy T m of 22.6 eV, and thus to a threshold displacement energy E d of 15.7 or 8.2 eV for the assumed ejection directions < 110 > or < 100 > respectively. We have also observed the climbing of dislocations and the agglomeration of point defects into dislocation loops.


Résumé
Nous présentons les premiers résultats concernant l'irradiation électronique de lames monocristallines d'antimoine (structure A7) de plan moyen (111), dans un microscope à haute tension. Nous estimons à 725 ± 20 kV la tension qui sépare le régime d'irradiation sous le seuil du régime d'irradiation proprement dit. Cette tension seuil correspond à une énergie maximale Tm cédée lors d'un choc frontal égale à 22,6 eV, et donc à une énergie seuil de déplacement E d égale respectivement à 15,7 ou 8,2 eV selon que l'on admet que les atomes sont éjectés dans les directions < 110 > ou < 100 >. Nous avons également observé la montée des dislocations et la formation de boucles de défauts ponctuels.

PACS
6116D - Electron microscopy determinations of structures.
6170J - Etch pits, decoration, transmission electron microscopy and other direct observations of dislocations.
6180F - Electron and positron effects.

Key words
antimony -- point defects -- transmission electron microscope examination of materials -- high voltage electron microscope -- agglomeration of point defects -- electron irradiation -- thin foils -- bulk radiation damage -- threshold voltage -- threshold displacement energy -- dislocation loops -- dislocation climb -- Sb -- electron beam effects -- electron microscopy