Numéro
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 15, Numéro 5, mai 1980
Page(s) 1007 - 1012
DOI https://doi.org/10.1051/rphysap:019800015050100700
Rev. Phys. Appl. (Paris) 15, 1007-1012 (1980)
DOI: 10.1051/rphysap:019800015050100700

Une méthode de mesure simple et directe du facteur de bruit pour les amplificateurs et les transistors

G.A. Blasquez

Laboratoire d'Automatique et d'Analyse des Systèmes, 7, avenue du Colonel-Roche, 31400 Toulouse, France


Abstract
By connecting the source resistance between the input and output of a two-port such as integrated amplifiers, field effect transistors and bipolar transistors, the noise figure can be directly determined from a single noise measurement. In the case of amplifiers, the method can be used as long as the voltage gain is equal or greater than five and over a source resistance range which is inversely proportional to the cube of the frequency. For transistors it is applicable when the short circuit current gain is equal or greater than five and over a source resistance range which is inversely proportional to the frequency. This method is simpler to use, is more accurate and is faster than classical methods.


Résumé
En connectant la résistance de source entre l'entrée et la sortie de quadripôles comme les amplificateurs intégrés, les transistors à effet de champ et les transistors bipolaires, le facteur de bruit peut être déterminé directement à partir d'une seule mesure de bruit. Pour les amplificateurs, la méthode est utilisable tant que le gain en tension est égal ou supérieur à cinq et dans un intervalle de valeurs de résistances de source inversement proportionnel au cube de la fréquence. Pour les transistors, elle est applicable tant que le gain en courant en régime de court-circuit à la sortie est approximativement supérieur ou égal à cinq et dans un intervalle de valeurs de résistances de source inversement proportionnel à la fréquence. Cette méthode est plus simple à mettre en oeuvre, plus précise et plus rapide que les méthodes classiques.

PACS
0750 - Electrical instruments and techniques.
1220 - Amplifiers.
2560J - Bipolar transistors.
2560S - Other field effect devices.
7310Z - Other electric variables measurement.

Key words
amplifiers -- electric noise measurement -- noise figure -- source resistance -- input -- output -- integrated amplifiers -- field effect transistors -- bipolar transistors -- voltage gain -- short circuit current gain