Rev. Phys. Appl. (Paris) 17, 701-706 (1982)
DOI: 10.1051/rphysap:019820017010070100

Mesure assistée par miniordinateur du pouvoir thermoélectrique de petits échantillons

A. Bonnet, P. Said et A. Conan

Laboratoire de Physique des Matériaux et Composants de l'Electronique, 2, rue de la Houssinière, 44072 Nantes Cedex, France

Abstract
A method is described for measurements of the thermoelectric power of small samples in the temperature range 4-800 K. The help of a data acquisition system monitored by a calculator is required. Measurements may be performed on metallic samples (S < 10 μV/K) as well as on semiconductors with high Seebeck coefficient (S > 500 μV/K) within an accuracy of 2 %. The device has been checked on a standard electrolytic sample.

Résumé
Le dispositif décrit permet une mesure du pouvoir thermoélectrique d'échantillons de faible dimension (quelques mm) entre 4 et 800 K. La mesure est assistée par une chaîne d'acquisition de données sous le contrôle d'un calculateur. Il est possible de mesurer le P.T.E. d'échantillons métalliques (S < 10 μV/K) comme le P.T.E. d'échantillons semi-conducteurs à fort coefficient de Seebeck (S > 500 μV/K) avec une précision de 2 %. L'appareil a été testé sur un échantillon de fer électrolytique standard.

PACS
0650M - Computing devices and techniques.
0750 - Electrical instruments and techniques.
7215J - Thermoelectric effects metals/alloys.
7220P - Thermoelectric effects semiconductors/insulators.
5520 - Data acquisition equipment and techniques.
7320 - Physics and chemistry computing.

Key words
data acquisition -- electrolytes -- physics computing -- thermoelectricity -- 4 to 800K -- thermoelectric power -- data acquisition system -- metallic samples -- semiconductors -- Seebeck coefficient -- electrolytic sample