Numéro
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 17, Numéro 12, décembre 1982
Page(s) 787 - 792
DOI https://doi.org/10.1051/rphysap:019820017012078700
Rev. Phys. Appl. (Paris) 17, 787-792 (1982)
DOI: 10.1051/rphysap:019820017012078700

Intervalle de confiance de la signature obtenue par D.L.T.S., d'un piège profond

G. Sagnes, G. Bastide et H. Lim

Université des Sciences et Techniques du Languedoc, Centre d'Etudes d'Electronique des Solides, associé au C.N.R.S., Place E. Bataillon, 34060 Montpellier Cedex, France


Abstract
In this paper, we study a numerical simulation method with which one can determine the confidence intervals of activation energy and capture cross-section of a deep level measured by D.L.T.S. method. From the results of this simulation, we determine two empirical relations and their limits of validity, which permit to calculate easily these intervals.


Résumé
Nous donnons à partir des résultats d'une simulation numérique, une méthode statistique de détermination des intervalles de confiance des mesures de l'énergie d'activation et de la section de capture d'un piège profond par D.L.T.S. A partir des résultats de la simulation, nous déterminons deux relations empiriques qui permettent dans leurs limites de validité, de calculer rapidement ces intervalles.

PACS
7155 - Impurity and defect levels.

Key words
deep level transient spectroscopy -- deep levels -- DLTS -- numerical simulation method -- confidence intervals -- activation energy -- capture cross section -- deep level -- empirical relations