Rev. Phys. Appl. (Paris) 20, 695-698 (1985)
DOI: 10.1051/rphysap:019850020010069500

Caractérisation magnétique d'un bilame supraconducteur

J. Chilo

Laboratoire d'Electromagnétisme, U.A. 833, ENSERG, 23, rue des Martyrs, 38031 Grenoble Cedex, France

Abstract
We propose a straightforward analysis for magnetic characterization of a double layered strip. We take out the equivalent London penetration depth and the resulting inductance. The total current supported by such a line being fixed, we determine the distributions of the current density. Close agreement with experimental and numerical results confirm the validity of the proposed method.

Résumé
Par un développement analytique direct, nous caractérisons complètement les propriétés magnétiques d'un bilame supraconducteur. Nous en déduisons sa profondeur de pénétration équivalente ainsi que son inductance globale. En fixant le courant total traversant ce bilame, nous donnons également les distributions de densité de courant dans une section droite du dispositif. Les résultats analytiques présentés sont en parfait accord avec ceux obtenus par des méthodes de résolution numérique ou par des tests interférométriques.

PACS
7450 - Superconductor tunnelling phenomena, proximity effects, and Josephson effect.
3240C - Superconducting junction devices.

Key words
Josephson effect -- superconducting junction devices -- Josephson junction -- doubled layered strip -- magnetic characterization -- equivalent London penetration depth -- inductance -- total current -- current density