Rev. Phys. Appl. (Paris) 20, 863-868 (1985)
DOI: 10.1051/rphysap:019850020012086300

Spectrométrie IR pour la mesure de faibles variations d'émissivité

Ph. Pigeat, N. Pacia, B. Weber et D. Paulmier

Laboratoire d'Etudes et de Recherches en Mécanique et Energétique des Surfaces (+), 6, rue du Joli Coeur, 54000 Nancy, France

Abstract
We describe here a double beam infrared spectrometer (0.5-10 μm) well adapted for the measurement of small variation in spectral and directional emissivity of surface. With an original switch system, we measure under high vacuum (10-7 torr), the difference between the radiative power of each side of the sample. In this way, we have measured, the difference between the radiative power of each side of a carbon ribbon, when under vacuum we deposit platinum on one side. We show, that it is possible to measure 0.3 % of variation of emissivity, with an accuracy of 10 %. Such a variation, is the result of a deposit of 3.6 x 1015 atoms/cm2 of platinum on the carbon surface.

Résumé
Nous décrivons un spectromètre infrarouge double faisceau (0,5 μm- 10 μm) adapté à l'étude de faibles variations d'émissivité monochromatique directionnelle d'une surface. Grâce à un système original de commutation des voies, on mesure sous vide (pression 10-7 torr), la différence d'énergie émise par les deux faces d'un ruban échantillon. C'est ainsi que nous avons mesuré la différence d'émissivité des deux faces d'un ruban de carbone lorsqu'un dépôt de platine est effectué sur l'une de celles-ci. Nous montrons qu'il est possible de mettre en évidence des variations d'émissivité de 0,3 % avec une précision de 10 %. De telles variations sont engendrées par des dépôts de 3,6 x 1015 atomes/cm 2 de platine déposés sur carbone.

PACS
0765G - IR spectroscopy and spectrometers.

Key words
spectrometers -- 0.5 to 10 micron -- IR spectrometer -- small variation -- emissivity -- double beam infrared spectrometer -- spectral -- directional emissivity