Numéro
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 23, Numéro 2, février 1988
Page(s) 105 - 109
DOI https://doi.org/10.1051/rphysap:01988002302010500
Rev. Phys. Appl. (Paris) 23, 105-109 (1988)
DOI: 10.1051/rphysap:01988002302010500

X-ray evidence for a new phase in ammonium hydrogen oxalate hemihydrate under pressure

L. Bosio1, M. Oumezzine2 et R. Pick3

1  Laboratoire Physique des Liquides et Electrochimie, ESPCI, 10, rue Vauquelin, 75231 Paris Cedex 05, France
2  Faculté des Sciences et Techniques, Monastir 5000, Tunisie
3  Département de Recherches Physiques, Université P. & M. Curie, 4, place Jussieu, 75252 Paris Cedex 05, France


Abstract
Using an X-ray diamond anvil cell, we have found superlattice reflections, characteristic of the high pressure-low temperature phase III of NH 4HC2O4, 1/2 H2O. At 77 K and 0.75 GPa, these peaks are located around each Bragg peaks of phase I at position ( h, k, 1 ± δ) with δ ≈ 0.25.


Résumé
Les diagrammes de diffraction obtenus à l'aide d'une cellule à enclumes de diamant ont permis d'identifier, à haute pression et basse température, les taches de surstructure caractéristiques de la phase III de NH4HC 2O4' 1/2 H2O. A 77 K et 0,75 GPa, les taches trouvées entourent les pics de Bragg de la phase I et sont situées à (h, k, 1 ± δ) avec δ ≈ 0,25.

PACS
6165 - Crystal structure of specific organic compounds.

Key words
crystal atomic structure of organic compounds -- organic compounds -- X ray diffraction examination of materials -- ammonium hydrogen oxalate hemihydrate -- X ray diamond anvil cell -- superlattice reflections -- high pressure low temperature phase III -- Bragg peaks -- 77 K -- 0.75 GPa