Numéro
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 25, Numéro 12, décembre 1990
Page(s) 1225 - 1238
DOI https://doi.org/10.1051/rphysap:0199000250120122500
Rev. Phys. Appl. (Paris) 25, 1225-1238 (1990)
DOI: 10.1051/rphysap:0199000250120122500

Incertitude sur l'analyse des contraintes par diffraction des rayons X

C. Kahloun1, K.F. Badawi1 et A. Diou2

1  Laboratoire de Thermomécanique, I.U.T. Le Creusot, France
2  Laboratoire GERE, I.U.T. Le Creusot, France


Abstract
In this study, we have developped a method to estimate the value of the errors committed during the stress analysis by X-Ray diffraction. We have cherched the non bias of the proposed estimators and the validity of all the made hypothesis by fifty stress determinations. We have equally established a criterion to choose the number of the ψ angles, with reference to the wished precision, and another criterion to check the good position of the sample with respect to the goniometric centre of the diffractometer.


Résumé
Dans cette étude, nous avons développé une méthode d'estimation de la valeur des erreurs de mesure commises lors de l'analyse des contraintes par diffraction des rayons X. Nous avons vérifié à partir de cinquante déterminations des contraintes le non-biais des estimateurs proposés, ainsi que toutes les hypothèses faites pour établir ces estimateurs. Nous avons également établi un critère de choix du nombre et des valeurs des angles d'incidence ψ en fonction de la précision de mesure souhaitée, ainsi qu'un critère de bon positionnement de l'échantillon par rapport au centre goniométrique du diffractomètre.

PACS
6110F - Experimental X ray diffraction and scattering techniques.
4630R - Mechanical measurement methods and techniques for solids.

Key words
measurement errors -- X ray crystallography calculation methods -- errors -- stress analysis -- X ray diffraction