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Article cité :

Contrastes simulés au croisement de défauts d'empilement

André Rocher, Bernard Jouffrey

Rev. Phys. Appl. (Paris), 4 4 (1969) 525-532

DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:0196900404052500

Citations de cet article :

Dislocations a/2 <110> et parois d'antiphase de deformation dans un alliage Ni3Mn MIS en ordre juste au-dessous de la temperature de kurnakov, puis deforme

D. Thom, A. Lasserre, F. Reynaud and P. Coulomb
Scripta Metallurgica 11 (3) 219 (1977)
https://doi.org/10.1016/0036-9748(77)90057-6

The Electron Diffraction Contrast of Overlapping Stacking Faults

Helmut Oppolzer and Peter Skalicky
Journal of the Physical Society of Japan 40 (4) 1112 (1976)
https://doi.org/10.1143/JPSJ.40.1112

Observation de défauts d'empilement sous très haute tension

C. Mory, A. Rocher and B. Jouffrey
Journal de Physique 36 (2) 163 (1975)
https://doi.org/10.1051/jphys:01975003602016300

Kontrastsimulationen für die Transmissionselektronenmikroskopie und ‐beugung mit elektronischen Rechenmaschinen

D. Schulze
Kristall und Technik 8 (5) 545 (1973)
https://doi.org/10.1002/crat.19730080503

Computer-simulated electron micrographs of crystal defects

P. Skalicky
Physica Status Solidi (a) 20 (1) 11 (1973)
https://doi.org/10.1002/pssa.2210200102