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Article cité :

Dislocations et fautes d'empilement par microscopie ionique à champ

J. Gallot, D.A. Smith

Rev. Phys. Appl. (Paris), 6 1 (1971) 11-18

DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019710060101100

Citations de cet article :

Studies of dislocations by field ion microscopy and atom probe tomography

G.D.W. Smith, D. Hudson, P.D. Styman and C.A. Williams
Philosophical Magazine 93 (28-30) 3726 (2013)
https://doi.org/10.1080/14786435.2013.818257

Atom Probe Microscopy

Baptiste Gault, Michael P. Moody, Julie M. Cairney and Simon P. Ringer
Springer Series in Materials Science, Atom Probe Microscopy 160 299 (2012)
https://doi.org/10.1007/978-1-4614-3436-8_9

Atom-probe investigations of fine-scale features in intermetallics

A Menand, B Deconihout, E Cadel and D Blavette
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https://doi.org/10.1016/S0968-4328(00)00079-2

Comments on ``Grain boundary contrast in field-ion microscope images''. I

D. A. Smith and G. D. W. Smith
Journal of Applied Physics 44 (2) 900 (1973)
https://doi.org/10.1063/1.1662284