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Article cité :

Étude des aberrations du second ordre du microanalyseur ionique et de quelques autres systèmes destinés au filtrage d'images étendues

M. Leleyter, G. Slodzian

Rev. Phys. Appl. (Paris), 6 1 (1971) 65-89

DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019710060106500

Citations de cet article :

Image acquisition with immersion objective lenses using electrons emitted with several tenths of an electron volt energies: Towards high spatial resolution ESCA analysis

M. Bernheim
Ultramicroscopy 106 (4-5) 398 (2006)
https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2005.11.007

Advances in Electronics and Electron Physics Volume 68

E.M. Yakushev and L.M. Sekunova
Advances in Electronics and Electron Physics, Advances in Electronics and Electron Physics Volume 68 68 337 (1986)
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Analytical microscopy by secondary ion imaging techniques

R Castaing and G Slodzian
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https://doi.org/10.1088/0022-3735/14/10/002

Étude et mise au point d'un secteur électrostatique cylindrique à déviation π/2√2

P. Perrier and B. Carricaburu
Revue de Physique Appliquée 7 (1) 61 (1972)
https://doi.org/10.1051/rphysap:019720070106100

Détermination expérimentale de quelques caractéristiques optiques d'un système double prisme magnétique-miroir électrostatique

M. Leleyter, G. Slodzian and R. Quettier
Revue de Physique Appliquée 7 (2) 117 (1972)
https://doi.org/10.1051/rphysap:0197200702011700