Spectrométrie des électrons Auger
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In-lab X-ray fluorescence and diffraction techniques for pathological calcifications
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New insights into micro/nanoscale combined probes (nanoAuger, μXPS) to characterize Ag/Au@SiO2core–shell assemblies
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Hans Joachim DudekAngewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie 97 (1986)
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