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Simulation Study of the Instability Induced by the Variation of Grain Boundary Width and Trap Density in Gate-All-Around Polysilicon Transistor
Po-Jui Lin, Yung-Yueh Chiu, Frederick Chen and Riichiro Shirota IEEE Transactions on Electron Devices 68(4) 1969 (2021) https://doi.org/10.1109/TED.2021.3059185
Experimental and theoretical overview on bias dependent Debye relaxation and conduction mechanism of Cd 1-x Zn x S film and its significance in signal transport network
Polycrystalline Silicon for Integrated Circuit Applications
Ted Kamins The Kluwer International Series in Engineering and Computer Science, Polycrystalline Silicon for Integrated Circuit Applications 45 155 (1988) https://doi.org/10.1007/978-1-4613-1681-7_5
Bibliography of selected papers on polycrystalline silicon