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Surface photovoltage method for the quality control of silicon epitaxial layers on sapphire

A. F. Yaremchuk, A. V. Starkov, A. V. Zaikin, A. V. Alekseev and E. M. Sokolov
Semiconductors 48 (13) 1720 (2014)
https://doi.org/10.1134/S1063782614130168

The measurement of the diffusion length and the recombination velocity at the grain boundary in polycrystalline solar cells by the SEM-EBIC technique

Andrzej Romanowski and Andrzej Buczkowski
Solid-State Electronics 28 (7) 645 (1985)
https://doi.org/10.1016/0038-1101(85)90014-0

Large Scale Integrated Circuits Technology: State of the Art and Prospects

Giovanni Soncini
Large Scale Integrated Circuits Technology: State of the Art and Prospects 254 (1982)
https://doi.org/10.1007/978-94-009-7645-0_10

Determination of minority-carrier lifetime in silicon solar cells from laser-transient photovoltaic effect

M. Di Giulio, S. Galassini, G. Micocci, A. Tepore and C. Manfredotti
Journal of Applied Physics 52 (12) 7219 (1981)
https://doi.org/10.1063/1.328706