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Article cité :

Molecular secondary ion mass spectrometry: New dimensions in chemical characterization

Richard J. Colton, Joseph E. Campana, David A. Kidwell, Mark M. Ross and Jeffrey R. Wyatt
Applications of Surface Science 21 (1-4) 168 (1985)
https://doi.org/10.1016/0378-5963(85)90016-9

Surface analysis: x-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy, and secondary ion mass spectrometry

Noel H. Turner and Richard J. Colton
Analytical Chemistry 54 (5) 293 (1982)
https://doi.org/10.1021/ac00242a027

Transmission d'un filtre de masse quadrupolaire. II. Calcul de la transmission globale d'un spectromètre quadrupolaire

R.-L. Inglebert and J.-F. Hennequin
Revue de Physique Appliquée 15 (9) 1489 (1980)
https://doi.org/10.1051/rphysap:019800015090148900