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Article cité :

Spectral Analysis of the Amplified Spontaneous Emission in the Second Positive System of the N2 Molecule

Carlos E. Fellows
Applied Spectroscopy 72 (11) 1674 (2018)
https://doi.org/10.1177/0003702818781801

Interferometric Method for Electronic Density Measurement in a Plasma Focus Device

I. Baltog, M. Ganciu, L. Mihut, V. Zambreanu and V. Zoita
Beiträge aus der Plasmaphysik 25 (3) 263 (1985)
https://doi.org/10.1002/ctpp.19850250307