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Article cité :

Etude par microanalyse aux rayons X des migrations d'argent dans Ag 2 Te

J.C. Bernède, Y. Trégouet

Rev. Phys. Appl. (Paris), 14 4 (1979) 551-553

DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01979001404055100

Citations de cet article :

Effet de la nature de la contre-électrode sur les caractéristiques courant-tension de structures Al/Al2O3/Te en couches minces

A. Khelil and J.C. Bernède
Thin Solid Films 148 (3) 261 (1987)
https://doi.org/10.1016/0040-6090(87)90319-1

Commutations dans les couches minces de sélénium influence des électrodes

J.-C. Bernède
Physica Status Solidi (a) 65 (1) 97 (1981)
https://doi.org/10.1002/pssa.2210650110

Switching and silver movements in Ag2Se thin films

J.-C. Bernede
Physica Status Solidi (a) 57 (2) K101 (1980)
https://doi.org/10.1002/pssa.2210570244

Évolution de l'interface or-tellure en couches minces: Effets de commutations

J.C. Bernede, Y. Tregouët and M. Naciri
Thin Solid Films 62 (1) 29 (1979)
https://doi.org/10.1016/0040-6090(79)90378-X