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Article cité :

Direct measurement of the electrodiffusion on metallic films using radioactive tracers
Mesure directe de l'électromigration sur des couches métalliques à l'aide de traceurs radioactifs

K.V. Reddy, J.J.B. Prasad, F. Bénière

Rev. Phys. Appl. (Paris), 18 10 (1983) 613-617

DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019830018010061300

Citations de cet article :

Electromigration in thin solid films

J.J.B. Prasad and K.V. Reddy
Thin Solid Films 164 123 (1988)
https://doi.org/10.1016/0040-6090(88)90121-6

Electromigration and coagulation in thin films of pure indium and pure tin

R. Gilde, H. J. van Daal and H. H. Brongersma
Physica Status Solidi (a) 105 (2) 493 (1988)
https://doi.org/10.1002/pssa.2211050222