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Article cité :

Caractérisation de MOS par des techniques d'analyse de surface en ultra-vide au cours de leur élaboration in situ

J.C. Dupuy, B. Vilotitch, A. Sibai

Rev. Phys. Appl. (Paris), 19 12 (1984) 965-970

DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019840019012096500

Citations de cet article :

Structure

A. Fasolino, A. Selloni and A. Shkrebtii
Landolt-Börnstein - Group III Condensed Matter, Structure 24a 182 (1993)
https://doi.org/10.1007/10031427_33

Structure

A. Fasolino, A. Selloni and A. Shkrebtii
Landolt-Börnstein - Group III Condensed Matter, Structure 24a 208 (1993)
https://doi.org/10.1007/10031427_35

A tabulation and classification of the structures of clean solid surfaces and of adsorbed atomic and molecular monolayers as determined from low energy electron diffraction patterns

H. Ohtani, C.-T. Kao, M.A. Van Hove and G.A. Somorjai
Progress in Surface Science 23 (2-3) 155 (1986)
https://doi.org/10.1016/0079-6816(86)90015-8