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In situ atomistic observations of dynamics of Lomer dislocations in Au subjected to electron-beam irradiation

Sung Bo Lee, Simoon Sung, Jinwook Jung and Heung Nam Han
Materialia 28 101767 (2023)
https://doi.org/10.1016/j.mtla.2023.101767

Migration Pinning and Roughening Transition of a Ni Grain Boundary

Sung Bo Lee, Jinwook Jung, Seung Jo Yoo and Heung Nam Han
Metallurgical and Materials Transactions A 51 (3) 1067 (2020)
https://doi.org/10.1007/s11661-019-05579-1

Dislocations as native nanostructures - electronic properties

Manfred Reiche, Martin Kittler, Hartmut Uebensee, Eckhard Pippel and Sigrid Hopfe
Advances in nano research 2 (1) 1 (2014)
https://doi.org/10.12989/anr.2014.2.1.001

Competitive Role of Impurities on the Electrical Activity of as-grown Σ=13, Σ=25 and Deformed Σ=9 Grain boundaries in p-type Silicon Bi-crystals

S. Gaiaschi, A. El Kouadri Boudjelthia, G. Regula, et al.
MRS Proceedings 1474 (2012)
https://doi.org/10.1557/opl.2012.1472

Structure and properties of dislocations in interfaces of bonded silicon wafers

M Reiche, M Kittler, R Scholz, A Hähnel and T Arguirov
Journal of Physics: Conference Series 281 012017 (2011)
https://doi.org/10.1088/1742-6596/281/1/012017

EBIC and TEM analysis of the electrical activity of Σ = 25 and Σ = 13 silicon bicrystals after thermal treatments

A. Ihlal and G. Nouet
Physica Status Solidi (a) 141 (1) 81 (1994)
https://doi.org/10.1002/pssa.2211410108