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Article cité :

Design of X-UV multilayers for high X-ray flux

L.V. Knight, J.M. Thorne, A. Toor, T.W. Barbee

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DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:0198800230100163100

Citations de cet article :

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Damages to B4C/W multilayer mirrors by intense soft x-ray bursts

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Processing of W/Si and Si/W bilayers and multilayers with single and multiple excimer-laser pulses

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Effect of structural incoherence on the low-angle diffraction pattern of synthetic multilayer materials

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Characterization of Metal/Carbon Multilayers by Raman Spectroscopy

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