Article cité par

La fonctionnalité Article cité par… liste les citations d'un article. Ces citations proviennent de la base de données des articles de EDP Sciences, ainsi que des bases de données d'autres éditeurs participant au programme CrossRef Cited-by Linking Program. Vous pouvez définir une alerte courriel pour être prévenu de la parution d'un nouvel article citant " cet article (voir sur la page du résumé de l'article le menu à droite).

Article cité :

EBIC investigations of thick SOI layers

M. Kittler, B. Tillack, W. Hoppe, W. Seifert, R. Banisch, H.H. Richter, A. Rocher

Rev. Phys. Appl. (Paris), 23 3 (1988) 281-288

DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01988002303028100

Citations de cet article :

Low frequency noise investigations for evaluation of silicon-on-insulator films obtained by zone-melting recrystallization

B. Tillack, R. Banisch, F. Januschewski, et al.
Materials Science and Engineering: B 18 (2) 181 (1993)
https://doi.org/10.1016/0921-5107(93)90130-F

Polycrystalline Semiconductors II

M. Kittler and W. Seifert
Springer Proceedings in Physics, Polycrystalline Semiconductors II 54 96 (1991)
https://doi.org/10.1007/978-3-642-76385-4_14

Defect Control in Semiconductors

Martin KITTLER
Defect Control in Semiconductors 1511 (1990)
https://doi.org/10.1016/B978-0-444-88429-9.50089-6

Generation and electrical characterization of thick SOI films

B. Tillack, R. Banisch, H.H. Richter and K. Hoeppner
Applied Surface Science 36 (1-4) 579 (1989)
https://doi.org/10.1016/0169-4332(89)90953-7

Structural and electrical properties of epitaxial Si on insulating substrates

G. A. Rozgonyi, Z. J. Radzimski, T. Higuchi, B. L. Jiang, D. M. Lee, T. Zhou, D. Schmidt and J. Blake
Applied Physics Letters 55 (6) 586 (1989)
https://doi.org/10.1063/1.101841