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Article cité :

Etude comparative du claquage dans les transistors à effet de champ de puissance MESFET, TEGFET et MISFET

J.C. de Jaeger, F. Temcamani, M. Lefebvre, R. Kozlowski, P. Fellon, J. Pribetich, Y. Crosnier

Rev. Phys. Appl. (Paris), 23 7 (1988) 1205-1213

DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019880023070120500

Citations de cet article :

Depletion and enhancement modes in InP MISFETs for power amplification

Philippe Fellon, Jean-Claude de Jaeger and Yves Crosnier
Annales Des Télécommunications 45 (3-4) 176 (1990)
https://doi.org/10.1007/BF02995152

Theoretical analysis of the breakdown voltage in InP MISFETs

J. C. de Jaeger, P. Fellon, R. Kozlowski, Y. Crosnier and G. Salmer
Microwave and Optical Technology Letters 2 (4) 121 (1989)
https://doi.org/10.1002/mop.4650020402