EDP Sciences logo
Authentification abonné
Rechercher
Menu

Article cité par

La fonctionnalité Article cité par… liste les citations d'un article. Ces citations proviennent de la base de données des articles de EDP Sciences, ainsi que des bases de données d'autres éditeurs participant au programme CrossRef Cited-by Linking Program. Vous pouvez définir une alerte courriel pour être prévenu de la parution d'un nouvel article citant " cet article (voir sur la page du résumé de l'article le menu à droite).

Article cité :

Förster resonance energy transfer between individual semiconductor nanocrystals and an InP film

Chiara Sinito, Xavier Quélin, Nathalie Simon, et al.
Journal of Nanophotonics 10 (4) 046014 (2016)
https://doi.org/10.1117/1.JNP.10.046014

Characterization of thin InP anodic oxide layers: Correlation of morphological investigations with chemical and electrical properties

Nathalie Simon, Lionel Santinacci, Claudia Decorse-Pascanut, Sébastien Jaskierowicz and Arnaud Etcheberry
Comptes Rendus. Chimie 11 (9) 1030 (2008)
https://doi.org/10.1016/j.crci.2008.02.004

Growth of Anodic Oxides on n-InP Studied by Electrochemical Methods and Surface Analyses

N. Simon, N. C. Quach, A. M. Gonçalves and A. Etcheberry
Journal of The Electrochemical Society 154 (5) H340 (2007)
https://doi.org/10.1149/1.2709504

Photoluminescence characterization of Al/Al2O3/InP MIS structures passivated by anodic oxidation

A. Mahdjoub
Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics 7 (4) 436 (2004)
https://doi.org/10.15407/spqeo7.04.436

Cathodic Behavior of n-InP Modified by a Thin Anodic Oxide

N. C. Quach, N. Simon, I. Gérard, P. Tran Van and A. Etcheberry
Journal of The Electrochemical Society 151 (5) C318 (2004)
https://doi.org/10.1149/1.1690783

Study of a thin anodic oxide on n-InP by photocurrent transient, capacitance measurements and surface analysis

N. Simon, I. Gerard, C. Mathieu and A. Etcheberry
Electrochimica Acta 47 (16) 2625 (2002)
https://doi.org/10.1016/S0013-4686(02)00123-8