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Citations de cet article :

New insights into micro/nanoscale combined probes (nanoAuger, μXPS) to characterize Ag/Au@SiO2 core–shell assemblies

J. B. Ledeuil, A. Uhart, S. Soulé, et al.
Nanoscale 6 (19) 11130 (2014)
DOI: 10.1039/C4NR03211J
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La microanalyse du soufre par l'observation de réactions nucléaires

R. Caplain, D. David and G. Béranger
Revue de Physique Appliquée 17 (8) 441 (1982)
DOI: 10.1051/rphysap:01982001708044100
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In-lab X-ray fluorescence and diffraction techniques for pathological calcifications

Stéphan Rouzière, Dominique Bazin and Michel Daudon
Comptes Rendus Chimie 19 (11-12) 1404 (2016)
DOI: 10.1016/j.crci.2015.05.013
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Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie

Hans Joachim Dudek
Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie 97 (1986)
DOI: 10.1007/978-3-642-70177-1_2
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Modern Aspects of Electrochemistry

J. Augustynski and Lucette Balsenc
Modern Aspects of Electrochemistry 251 (1979)
DOI: 10.1007/978-1-4615-7455-2_4
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