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Citations de cet article :

A Method to Determine the Density of Surface States and Interfacial Charge Density in N-Channel Sos Mosfet's

N.K. Annamalai and A.N. Khondker
MRS Proceedings 53 413 (1985)
DOI: 10.1557/PROC-53-413
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Le matériau silicium sur saphir en France. Revue des propriétés physico-chimiques et électriques

S. Cristoloveanu, G. Ghibaudo and G. Kamarinos
Revue de Physique Appliquée 19 (2) 161 (1984)
DOI: 10.1051/rphysap:01984001902016100
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Non-homogeneous electrical transport through silicon-on-sapphire thin films: Evidence of the internal stress influence

Jong-Hyun Lee, Sorin Cristoloveanu and Alain Chovet
Solid-State Electronics 25 (9) 947 (1982)
DOI: 10.1016/0038-1101(82)90186-1
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Silicon films on sapphire

S Cristoloveanu
Reports on Progress in Physics 50 (3) 327 (1987)
DOI: 10.1088/0034-4885/50/3/002
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