Article cité par

La fonctionnalité Article cité par… liste les citations d'un article. Ces citations proviennent de la base de données des articles de EDP Sciences, ainsi que des bases de données d'autres éditeurs participant au programme strong>CrossRef Cited-by Linking Program. Vous pouvez définir une alerte courriel pour être prévenu de la parution d'un nouvel article citant " cet article (voir sur la page du résumé de l'article le menu à droite).

Article cité :

Citations de cet article :

A note on the pressure dependence of the EL2 level in Gallium Arsenide

Peter Dzwig
Solid State Communications 46 (4) 305 (1983)
DOI: 10.1016/0038-1098(83)90657-9
Voir cet article

Symmetry determination of theEL2 defect by numerical fitting of capacitance transients under uniaxial stress

S. Yang and C. D. Lamp
Physical Review B 49 (3) 1690 (1994)
DOI: 10.1103/PhysRevB.49.1690
Voir cet article

Trap emission rates in GaAs in the presence of surface acoustic waves

D. Janes and M. J. Hoskins
Journal of Applied Physics 67 (10) 6315 (1990)
DOI: 10.1063/1.345150
Voir cet article

Defect Levels in n-Type Gallium Arsenide and Gallium Aluminum Arsenide Layers

A.K. Saxena
physica status solidi (a) 183 (2) 281 (2001)
DOI: 10.1002/1521-396X(200102)183:2<281::AID-PSSA281>3.0.CO;2-V
Voir cet article

Critical criterion for axial models of defects in as-grownn-type GaAs

D. D. Nolte, W. Walukiewicz and E. E. Haller
Physical Review B 36 (17) 9374 (1987)
DOI: 10.1103/PhysRevB.36.9374
Voir cet article

DLTS investigation of deep levels in bulk GaAs under uniaxial stress

C A Londos and T Pavelka
Semiconductor Science and Technology 5 (11) 1100 (1990)
DOI: 10.1088/0268-1242/5/11/005
Voir cet article

Photorefractive Materials and Their Applications 2

D.D. Nolte, S. Iwamoto and K. Kuroda
Springer Series in Optical Sciences, Photorefractive Materials and Their Applications 2 114 363 (2007)
DOI: 10.1007/0-387-34081-5_11
Voir cet article