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Citations de cet article :

Residual Defects in Virgin and Implanted Si After Laser Processing

A. Mesli, A. Goltzene, J.C. Muller, et al.
MRS Proceedings 4 349 (1981)
DOI: 10.1557/PROC-4-349
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Cyclotron Resonance Parameter Variations Induced by Paramagnetic Defects in Laser Processed Si*

A. Goltzené and C. Schwab
Zeitschrift für Physikalische Chemie 151 (Part_1_2) 223 (1987)
DOI: 10.1524/zpch.1987.151.Part_1_2.223
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Laser and Electron Beam Processing of Materials

J.C. Muller, P. Siffert, J. Michel and E. Fabre
Laser and Electron Beam Processing of Materials 278 (1980)
DOI: 10.1016/B978-0-12-746850-1.50043-8
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Recent Developments in Condensed Matter Physics

A. Goltzené, C. Schwab, J. C. Muller and P. Siffert
Recent Developments in Condensed Matter Physics 127 (1981)
DOI: 10.1007/978-1-4684-3902-1_18
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