Article cité par

La fonctionnalité Article cité par… liste les citations d'un article. Ces citations proviennent de la base de données des articles de EDP Sciences, ainsi que des bases de données d'autres éditeurs participant au programme strong>CrossRef Cited-by Linking Program. Vous pouvez définir une alerte courriel pour être prévenu de la parution d'un nouvel article citant " cet article (voir sur la page du résumé de l'article le menu à droite).

Article cité :

Identification of imperfections contribution to electronic conductivity in monocrystalline metal film

C.R. Tellier, L. Hafid, A.J. Tosser

Rev. Phys. Appl. (Paris), 15 11 (1980) 1573-1577

DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:0198000150110157300

Citations de cet article :

Size Effects in Thin Films

C.R. TELLIER and A.J. TOSSER
Size Effects in Thin Films 1 (1982)
DOI: 10.1016/B978-0-444-42106-7.50005-X
Voir cet article

Effect of defect structure on the electrical conduction mechanism in metallic thin films

C. R. Tellier
Journal of Materials Science 20 (6) 1901 (1985)
DOI: 10.1007/BF01112272
Voir cet article

Thickness dependence of the temperature coefficient of resistivity of polycrystalline films in a three-dimensional conduction model

C. R. Pichard, C. R. Tellier and A. J. Tosser
Physica Status Solidi (a) 65 (1) 327 (1981)
DOI: 10.1002/pssa.2210650138
Voir cet article

Cumulative size effects in electrical conductivity of thin semi-metal films

C. R. Pichard, A. J. Tosser, D. Deschacht, et al.
Journal of Materials Science 16 (10) 2798 (1981)
DOI: 10.1007/BF02402844
Voir cet article

Size Effects in Thin Films

C.R. TELLIER and A.J. TOSSER
Size Effects in Thin Films 202 (1982)
DOI: 10.1016/B978-0-444-42106-7.50007-3
Voir cet article

Thermoelectric power due to thickness-dependent scattering in metal films

C.R. Tellier, A.J. Tosser and L. Hafid
Thin Solid Films 76 (4) 321 (1981)
DOI: 10.1016/0040-6090(81)90529-0
Voir cet article

Expression of Hall coefficient of thin metal films in the presence of impurity effects

C. R. Pichard, C. R. Tellier and A. J. Tosser
Journal of Materials Science Letters 1 (10) 423 (1982)
DOI: 10.1007/BF00724860
Voir cet article

Cumulative size effects in electrical conductivity of thin semi-metal films

C. R. Pichard, A. J. Tosser, D. Deschacht, et al.
Journal of Materials Science 16 (10) 2798 (1981)
DOI: 10.1007/BF00552964
Voir cet article

Graphical determination of the energy dependence of the thermoelectric power of thin monocrystalline metal films

C. R. Tellier, C. R. Pichard and A. J. Tosser
Journal of Materials Science 17 (1) 290 (1982)
DOI: 10.1007/BF00809064
Voir cet article

Perturbations in transport properties of thin metal films due to energy-dependent relaxation time

C. R. Pichard, C. R. Tellier, L. Ouarbya and A. J. Tosser
Physica Status Solidi (a) 68 (2) 477 (1981)
DOI: 10.1002/pssa.2210680217
Voir cet article