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Citations de cet article :

Size Effects in Thin Films

C.R. TELLIER and A.J. TOSSER
Size Effects in Thin Films 1 (1982)
DOI: 10.1016/B978-0-444-42106-7.50005-X
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Effect of defect structure on the electrical conduction mechanism in metallic thin films

C. R. Tellier
Journal of Materials Science 20 (6) 1901 (1985)
DOI: 10.1007/BF01112272
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Thickness dependence of the temperature coefficient of resistivity of polycrystalline films in a three-dimensional conduction model

C. R. Pichard, C. R. Tellier and A. J. Tosser
Physica Status Solidi (a) 65 (1) 327 (1981)
DOI: 10.1002/pssa.2210650138
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Cumulative size effects in electrical conductivity of thin semi-metal films

C. R. Pichard, A. J. Tosser, D. Deschacht, et al.
Journal of Materials Science 16 (10) 2798 (1981)
DOI: 10.1007/BF02402844
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Size Effects in Thin Films

C.R. TELLIER and A.J. TOSSER
Size Effects in Thin Films 202 (1982)
DOI: 10.1016/B978-0-444-42106-7.50007-3
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Thermoelectric power due to thickness-dependent scattering in metal films

C.R. Tellier, A.J. Tosser and L. Hafid
Thin Solid Films 76 (4) 321 (1981)
DOI: 10.1016/0040-6090(81)90529-0
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Expression of Hall coefficient of thin metal films in the presence of impurity effects

C. R. Pichard, C. R. Tellier and A. J. Tosser
Journal of Materials Science Letters 1 (10) 423 (1982)
DOI: 10.1007/BF00724860
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Cumulative size effects in electrical conductivity of thin semi-metal films

C. R. Pichard, A. J. Tosser, D. Deschacht, et al.
Journal of Materials Science 16 (10) 2798 (1981)
DOI: 10.1007/BF00552964
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Graphical determination of the energy dependence of the thermoelectric power of thin monocrystalline metal films

C. R. Tellier, C. R. Pichard and A. J. Tosser
Journal of Materials Science 17 (1) 290 (1982)
DOI: 10.1007/BF00809064
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Perturbations in transport properties of thin metal films due to energy-dependent relaxation time

C. R. Pichard, C. R. Tellier, L. Ouarbya and A. J. Tosser
Physica Status Solidi (a) 68 (2) 477 (1981)
DOI: 10.1002/pssa.2210680217
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