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Article cité :

Effect of defect structure on the electrical conduction mechanism in metallic thin films

C. R. Tellier
Journal of Materials Science 20 (6) 1901 (1985)
https://doi.org/10.1007/BF01112272

Expression of Hall coefficient of thin metal films in the presence of impurity effects

C. R. Pichard, C. R. Tellier and A. J. Tosser
Journal of Materials Science Letters 1 (10) 423 (1982)
https://doi.org/10.1007/BF00724860

Graphical determination of the energy dependence of the thermoelectric power of thin monocrystalline metal films

C. R. Tellier, C. R. Pichard and A. J. Tosser
Journal of Materials Science 17 (1) 290 (1982)
https://doi.org/10.1007/BF00809064

Cumulative size effects in electrical conductivity of thin semi-metal films

C. R. Pichard, A. J. Tosser, D. Deschacht, et al.
Journal of Materials Science 16 (10) 2798 (1981)
https://doi.org/10.1007/BF02402844

Perturbations in transport properties of thin metal films due to energy-dependent relaxation time

C. R. Pichard, C. R. Tellier, L. Ouarbya and A. J. Tosser
Physica Status Solidi (a) 68 (2) 477 (1981)
https://doi.org/10.1002/pssa.2210680217

Cumulative size effects in electrical conductivity of thin semi-metal films

C. R. Pichard, A. J. Tosser, D. Deschacht, et al.
Journal of Materials Science 16 (10) 2798 (1981)
https://doi.org/10.1007/BF00552964

Thickness dependence of the temperature coefficient of resistivity of polycrystalline films in a three-dimensional conduction model

C. R. Pichard, C. R. Tellier and A. J. Tosser
Physica Status Solidi (a) 65 (1) 327 (1981)
https://doi.org/10.1002/pssa.2210650138