Appareillage de mesure de densité au 1/10 000e Application à l'étude des défauts dans le séléniure de plomb C. Belin et R. PellegrinRev. Phys. Appl. (Paris), 6 3 (1971) 415-418DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:0197100603041500
