Longueur de diffusion des porteurs minoritaires et structure de jonction des diodes Cu/Cu2O C. Noguet, D. Pierrat, M. Tapiero et J.P. ZielingerRev. Phys. Appl. (Paris), 15 3 (1980) 595-602DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01980001503059500
