Revue de Physique Appliquée

Electronic properties of grain boundaries in semiconductors

J.C. Bourgoin, A. Mauger et M. Lannoo

Rev. Phys. Appl. (Paris), 22 7 (1987) 579-583

DOI: 10.1051/rphysap:01987002207057900

J.C. Bourgoin

A. Mauger

M. Lannoo

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