EBIC investigations of thick SOI layers M. Kittler, B. Tillack, W. Hoppe, W. Seifert, R. Banisch, H.H. Richter et A. Rocher Rev. Phys. Appl. (Paris), 23 3 (1988) 281-288 DOI: 10.1051/rphysap:01988002303028100
