Etude comparative du claquage dans les transistors à effet de champ de puissance MESFET, TEGFET et MISFET J.C. de Jaeger, F. Temcamani, M. Lefebvre, R. Kozlowski, P. Fellon, J. Pribetich et Y. Crosnier Rev. Phys. Appl. (Paris), 23 7 (1988) 1205-1213 DOI: 10.1051/rphysap:019880023070120500