Revue de Physique Appliquée

Mesure et modélisation du courant de fuite de grille en excès des FET InGaAs

P. Carer, E. Caquot, J.C. Renaud, L. Nguyen et A. Scavennec

Rev. Phys. Appl. (Paris), 25 5 (1990) 453-456

DOI: 10.1051/rphysap:01990002505045300

P. Carer

E. Caquot

J.C. Renaud

L. Nguyen

A. Scavennec

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