Revue de Physique Appliquée

Identification of imperfections contribution to electronic conductivity in monocrystalline metal film

C.R. Tellier, L. Hafid et A.J. Tosser

Rev. Phys. Appl. (Paris), 15 11 (1980) 1573-1577

DOI: 10.1051/rphysap:0198000150110157300

C.R. Tellier

L. Hafid

A.J. Tosser

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