Revue de Physique Appliquée

Détermination expérimentale des paramètres des transistors MOS

P. Rossel, H. Tranduc, J.L. Sanchez et A. Bellaouar

Rev. Phys. Appl. (Paris), 18 8 (1983) 487-493

DOI: 10.1051/rphysap:01983001808048700

P. Rossel

H. Tranduc

J.L. Sanchez

A. Bellaouar

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