Revue de Physique Appliquée

Caractérisation de l'interface couche implantée substrat semi-isolant LEC GaAs

J.P. David, A. Roizes, M. Bonnet, N. Visentin et J. Icole

Rev. Phys. Appl. (Paris), 18 12 (1983) 751-756

DOI: 10.1051/rphysap:019830018012075100

J.P. David

A. Roizes

M. Bonnet

N. Visentin

J. Icole

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