Revue de Physique Appliquée

Réflectométrie à angle variable pour l'étude des couches adsorbées

P. Schaaf, Ph. Déjardin et A. Schmitt

Rev. Phys. Appl. (Paris), 21 11 (1986) 741-745

DOI: 10.1051/rphysap:019860021011074100

P. Schaaf

Ph. Déjardin

A. Schmitt

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