Numéro
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 1, Numéro 4, décembre 1966
Page(s) 287 - 292
DOI https://doi.org/10.1051/rphysap:0196600104028700
Rev. Phys. Appl. (Paris) 1, 287-292 (1966)
DOI: 10.1051/rphysap:0196600104028700

Nouveaux abaques pour la détermination des constantes diélectriques complexes aux hyperfréquences

G. Delbos et C. Demau

Laboratoire d'Optique Ultrahertzienne de la Faculté des Sciences de Bordeaux. Equipe de recherche associée au C. N. R. S.


Abstract
A new way of operating the slotted-line method for the determination of complex dielectric constants is described. It consist in the construction of new charts giving ε' and ε" from VSWR and position of the voltage minimum, and a method of refining and separation of the mesurements for the determination of low losses.


Résumé
On expose, pour la détermination des constantes diélectriques complexes aux hyperfréquences, un nouveau mode d'exploitation de la méthode dite « de la ligne courtcircuitée ». Il consiste en la réalisation d'abaques nouveaux à lectures directes donnant ε' et ε" à partir du TOST et du déplacement d'un minimum du train d'ondes stationnaires et en une méthode d'affinement et de séparation des mesures, pour la détermination des faibles absorptions.

PACS
7310 - Electric and magnetic variables measurement.
0750 - Electrical instruments and techniques.

Key words
permittivity measurement -- dielectric properties -- dielectric measurement