Dispositif d'irradiation aux neutrons à 20 °K p. 1 R.R. Conte et J. Dural DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01967002010100 RésuméPDF (2.299 MB)Références
Éclateur 120 kV faible inductance sous pression d'hexafluorure de soufre p. 7 M. Delmas, F. Delobeau, A. Jolas et J.P. Watteau DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01967002010700 RésuméPDF (2.138 MB)Références
Système d'asservissement pour étalon de fréquence p. 17 M. Olivier et R. Pretot DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019670020101700 RésuméPDF (445.7 KB)Références
Quelques résultats expérimentaux obtenus avec un maser bande C à rubis constitué de cavités en transmission couplées en quarts de longueur d'ondes p. 20 J.C. Jézéquel DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019670020102000 RésuméPDF (482.2 KB)Références
Appareillage pour l'étude expérimentale de l'ionisation par choc et de la lumière de recombinaison associée dans les semiconducteurs p. 23 René Granger DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019670020102300 RésuméPDF (1.257 MB)Références
Les verres phosphates, nouveaux matériaux laser p. 29 O.K. Deutschbein, C.C. Pautrat et I.M. Svirchevsky DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019670020102900 RésuméPDF (1.583 MB)Références
Étude de l'efficacité du couplage entre la source lumineuse et le milieu actif dans un laser à pompage optique p. 38 Pierre Brun et Jeanine Bonamy DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019670020103800 RésuméPDF (774.7 KB)Références
Détection des radiations infrarouges par variation de la réflectivité des semiconducteurs p. 45 Do Khac Manh et Roland Coelho DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019670020104500 RésuméPDF (983.4 KB)Références
Controle de couches minces transparentes d'épaisseurs optiques quelconques application à des couches extrêmement minces p. 52 E. Pelletier et P. Giacomo DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019670020105200 RésuméPDF (889.5 KB)Références
Étude de canons à électrons de faible énergie p. 57 A. Mosser et Ch. Burggraf DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019670020105700 RésuméPDF (690.4 KB)Références
Porte-échantillon ultra-vide à trois translations et trois rotations pour diffraction d'électrons p. 62 Jacques Cazaux, Raymond Ober et Roger Vilanove DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019670020106200 RésuméPDF (388.1 KB)
